국내 나노측정 기술, 국제표준 채택

국내 연구진이 개발한 나노측정 기술이 국제 전기 기술위원회, IEC에 의해 미세 전자기계 시스템 분야의 국제표준 기술로 채택됐습니다.

교육과학기술부는, 한국기계연구원 이학주 박사팀이 개발해온 나노측정 기술인 '띠 굽힘 시험법'이 국제표준으로 선정됐다고 밝혔습니다.

이번 국제표준 채택으로 현재 13조 5천억 원 규모로 추정되는 세계 나노측정 기술산업 분야에서 한국도 경쟁력을 확보할 수 있게 됐습니다.

이 박사팀이 개발한 '띠 굽힘 시험법'은, 각종 마이크로나 나노 구조물 등에 사용하는 박막의 인장 물성을 간편하고 정확하게 측정할 수 있도록 함으로써 미세 전자기계 관련 제품들의 신뢰성 향상에 크게 기여할 수 있는 기술입니다.